Notice[MPI Celadon Systems] T90™ Series Probe Card 소개

2026-07-01

안녕하세요, (주)로이엔텍입니다.

오늘은 MPI Corporation의 자회사인 Celadon Systems의 T90™ Series Probe Card 를 소개합니다.


T90™ Series Probe Card 란?

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반도체 웨이퍼 레벨 신뢰성(Wafer Level Reliability, WLR) 시험에서는 높은 정확도와 안정성은 물론, 다양한 테스트 환경을 지원하는 프로브 카드가 요구됩니다. MPI Celadon T90™ Series Probe Card는 고밀도 멀티사이트 테스트(High-Density Multi-Site Testing)를 위해 설계된 프로브 카드로, 업계 표준 4.5인치 포맷에서 높은 프로브 집적도와 넓은 온도 범위를 지원하는 제품입니다.


주요 특징

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🔎 고밀도 멀티사이트 테스트 지원


T90™ Series는 업계 표준 4.5인치 레일(4.5" rails)과 호환되며, 최대 500개의 프로브까지 구성할 수 있어 고밀도 멀티사이트 웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트에 적합하도록 설계되었습니다.


🚀 넓은 동작 온도 범위


T90™ Series는 

  • 기본 동작 온도 : -65°C ~ 300°C
  • 옵션 : 최대 400°C

까지 지원하며, 이를 통해 다양한 온도 조건에서도 신뢰성 있고 정확한 저누설(Low Leakage) 테스트 데이터를 제공합니다.


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☑️ 견고하고 신뢰성 높은 설계


T90™ Series는

  • 내구성이 뛰어난(Durable)
  • 신뢰성이 높은(Reliable)
  • 견고한(Rugged)


구조를 갖추고 있으며, 고밀도 웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트를 위한 솔루션인 동시에 컴팩트한 크기와 사용 편의성을 제공합니다. 또한 다양한 테스트 플랫폼과 함께 사용할 수 있도록 설계되었습니다.


주요 사양

항목내용
지원 포맷업계 표준 4.5" Rails
최대 프로브 수최대 500 Probes
기본 동작 온도-65°C ~ 300°C
옵션 온도최대 400°C
주요 적용 분야Multi-site Modeling & Characterization, Wafer Level Reliability, Burn-in
특징High-Density Multi-Site Testing, Compact Design, Low Leakage Test Data,
다양한 테스트 플랫폼 지원



해당 제품과 관련하여 궁금한 내용이 있으시면, 아래 문의처로 연락 부탁드립니다.


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