Auriga의 5세대 Pulsed IV/RF 특성화 시스템은 놀라운 속도와 정확도로 측정을 수행하며, 탁월한 성능을 제공합니다. PUlsed IV(전류-전압) 측정은 FET(Field Effect Transistor), BJT(Bipolar Junction Transistor) 등 능동 소자의 전류-전압 특성을 파악하는 데 있어 가장 선호되는 방법으로 자리잡고 있습니다.
최근에는 GaN HEMT, LDMOS, SiC, 그래핀과 같은 고출력 소자의 활용이 증가하면서, 요구되는 전류 및 전압 수준도 점점 더 높아지고 있습니다.
Auriga의 최신 Pulsed IV 기능인 Auriga MEM은 전류 해상도를 업계 최고 수준인 최대 전류의 0.01%까지 향상시킵니다. 또한, Auriga의 고급 보정 알고리즘과 외부 Keysight 디지털 멀티미터(DMM)를 함께 사용함으로써, DC 측정 평면을 DUT(시험 대상 장치) 바로 위로 이동시켜 정밀한 측정이 가능합니다.
시스템 구성:
Pulse Width 최소 200ns 까지 지원 합니다.
Tri-State를 활용하시면 Pre Pulse 를 활용 하여, 더 안전하게 DUT TEST가 가능해집니다.
-Pulsed IV TEST-
Auriga의 5세대 Pulsed IV/RF 특성화 시스템은 놀라운 속도와 정확도로 측정을 수행하며, 탁월한 성능을 제공합니다.
PUlsed IV(전류-전압) 측정은 FET(Field Effect Transistor), BJT(Bipolar Junction Transistor) 등 능동 소자의 전류-전압 특성을 파악하는 데 있어 가장 선호되는 방법으로 자리잡고 있습니다.
최근에는 GaN HEMT, LDMOS, SiC, 그래핀과 같은 고출력 소자의 활용이 증가하면서, 요구되는 전류 및 전압 수준도 점점 더 높아지고 있습니다.
Auriga의 최신 Pulsed IV 기능인 Auriga MEM은 전류 해상도를 업계 최고 수준인 최대 전류의 0.01%까지 향상시킵니다.
또한, Auriga의 고급 보정 알고리즘과 외부 Keysight 디지털 멀티미터(DMM)를 함께 사용함으로써, DC 측정 평면을 DUT(시험 대상 장치) 바로 위로 이동시켜 정밀한 측정이 가능합니다.
시스템 구성:
Pulse Width 최소 200ns 까지 지원 합니다.
Tri-State를 활용하시면 Pre Pulse 를 활용 하여, 더 안전하게 DUT TEST가 가능해집니다.