MicrosanJEZ500

SanjSCOPE™ EZ500

고성능, 비용 효율적인 열화상

SanjSCOPE™ EZ500은 반도체 분석, RF 장치 테스트 및 장애 분석을 위해 설계된 저렴하면서도 강력한 열반사 이미징(Thermoreflectance Thermal Imaging ) 측정 시스템 입니다. 저렴한 가격으로 고해상도 열화상을 제공하는 EZ500은 정밀한 열 특성화를 원하는 R&D 연구소, 학술 기관 및 산업 응용 분야에 이상적입니다.

- 주요 기능 및 이점

• 고해상도 열화상 – 상세한 열 분포 분석을 위한 서브미크론 정밀도.
• 빠르고 정확한 열 매핑 – 핫스팟, 일시적인 열 이벤트 및 장치 성능에 대한 실시간 분석.
• 비침습적 및 고감도 – 장치를 변경하지 않고 열 구배와 결함을 감지합니다.
• SanjView™ 소프트웨어 – Microsanj의 독점 소프트웨어와의 원활한 통합.
• 컴팩트하고 비용 효율적 – 성능과 경제성의 완벽한 균형.

- 응용 프로그램

• 반도체 테스트 – IC 및 마이크로칩의 최적의 열 성능을 보장합니다.
• RF 및 5G 장치 최적화 – 고주파 회로의 열 방출을 모니터링합니다.
• 고장 분석 및 신뢰성 테스트 – 장치의 열 이상 및 결함을 감지합니다.
• 포토닉스 및 광전자공학 – LED, 레이저 다이오드 및 광학 부품의 열 특성을 평가합니다.

- 기술 사양

• 공간 해상도: 서브 미크론
• 이미징 속도: 고속 실시간 분석
• 열 감도 : 10mK
• 측정 기술: 정상 상태 및 과도 열화상

- SanjSCOPE™ EZ500을 선택하는 이유?

저렴한 가격에 고품질 열화상이 필요한 연구원과 엔지니어를 위해 설계된 EZ500은 사용 편의성, 정밀도 및 신뢰성을 단일 시스템에 결합합니다. 고장 분석, 제품 개발, 반도체 테스트 등 이 시스템은 탁월한 결과를 제공합니다.